為測(cè)量任務(wù)選擇合適的探測(cè)系統(tǒng)并不總是一件容易的事，需要從確定被測(cè)工件的類型、測(cè)量效率和測(cè)量范圍開始。下面是對(duì)各種不同的探測(cè)系統(tǒng)及其主要應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)行匯總，目的在于為您的測(cè)量需要選擇最適合的探測(cè)系統(tǒng)和傳感器。

1.分度測(cè)座
集成測(cè)頭的手動(dòng)旋轉(zhuǎn)測(cè)座
特征：基本型，經(jīng)濟(jì)實(shí)用的集成式測(cè)頭和測(cè)座系統(tǒng)，可以手動(dòng)定位內(nèi)置測(cè)頭的方位，從而在空間內(nèi)完成工件所有特征的測(cè)量。
應(yīng)用：三維箱體類零件的檢測(cè)
集成測(cè)頭的手動(dòng)分度式測(cè)座
特征：兩個(gè)自由度的集成測(cè)頭和測(cè)座系統(tǒng)，允許以設(shè)定的可重復(fù)分度在空間內(nèi)手動(dòng)定位其內(nèi)置的測(cè)頭，提高了手動(dòng)和機(jī)動(dòng)測(cè)量機(jī)的靈活性。
應(yīng)用： 三維箱體類零件的檢測(cè)
自動(dòng)可分度測(cè)座
特征：兩個(gè)自由度的測(cè)座，可在空間內(nèi)以良好的重復(fù)性自動(dòng)定位測(cè)頭，能夠自動(dòng)更換測(cè)量傳感器，旋轉(zhuǎn)后不需重新校準(zhǔn)測(cè)頭，因此針對(duì)工件的表面可以選擇最適合的角度測(cè)量。
應(yīng)用：多表面箱體類零件的檢測(cè)

2.測(cè)頭
點(diǎn)到點(diǎn)觸發(fā)測(cè)頭
特征： 應(yīng)用廣泛的觸發(fā)式電子測(cè)頭，可完成快速和重復(fù)性的測(cè)量任務(wù)。使用壽命長(zhǎng)，精確，便于使用，成本相對(duì)較低，測(cè)量空間局限性小。
應(yīng)用： 適于三維箱體類工件的測(cè)量
可分度更換掃描測(cè)頭
特征：高精度快速掃描測(cè)頭，通過獲取大量的數(shù)據(jù)點(diǎn)，完成對(duì)箱體類零件和輪廓曲面的可靠測(cè)量。可安裝于分度式測(cè)座，并可與其他測(cè)頭進(jìn)行互換。
應(yīng)用：用于幾何元素、復(fù)雜形狀和輪廓的測(cè)量，對(duì)諸如尺寸、位置和形狀等幾何特征進(jìn)行完整的描述。
固定式掃描測(cè)頭
特征：極高精度的掃描測(cè)座，可向測(cè)量機(jī)發(fā)送連續(xù)的數(shù)據(jù)信息。被安裝于測(cè)量機(jī)Z 軸上，并可配置較長(zhǎng)的加長(zhǎng)桿以完成較深特征元素的測(cè)量工作。
應(yīng)用：檢測(cè)精度高，廣泛用于檢測(cè)形狀誤差、復(fù)雜幾何形狀和輪廓外形，包括尺寸、位置和形狀。
非接觸光學(xué)測(cè)頭
特征：利用判斷陰影及反光在光電器件上生成的特性類型(輪廓的灰度值)，人工對(duì)準(zhǔn)或自動(dòng)發(fā)出鎖存信號(hào)，鎖存垂直于光軸方向的兩維坐標(biāo)
應(yīng)用：完成對(duì)小的尺寸特征的放大測(cè)量，尤其是在大的工件上面具備小的測(cè)量特征時(shí)。
非接觸激光掃描測(cè)頭
特征：非接觸激光掃描測(cè)頭，利用三角測(cè)量法，垂直于測(cè)頭方向的兩維坐標(biāo)由測(cè)量機(jī)的坐標(biāo)系給出，光軸方向尺寸由三角形原理由測(cè)量機(jī)探測(cè)軸的位置給出，能夠在短時(shí)間獲取工件表面的大量數(shù)據(jù)點(diǎn)云。
應(yīng)用：不僅可以完成數(shù)字化測(cè)量，實(shí)現(xiàn)逆向工程的應(yīng)用，還可以完成復(fù)雜幾何形狀和要素的CAD比對(duì)測(cè)量與分析。

3.附件
更換架
特征：對(duì)測(cè)量機(jī)測(cè)座上的測(cè)頭/加長(zhǎng)桿/探針組合進(jìn)行快速、可重復(fù)的更換。
應(yīng)用：在同一的測(cè)量系統(tǒng)下對(duì)不同的工件進(jìn)行完全自動(dòng)化的檢測(cè)。
加長(zhǎng)桿和探針
特征：適于大多數(shù)檢測(cè)需要的附件。
應(yīng)用：確保測(cè)頭不受限制的對(duì)工件所有特征元素進(jìn)行測(cè)量，且具測(cè)量較深位置特征的能力。

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